如何使用激光粗糙度測(cè)量?jī)x才不會(huì)導(dǎo)致被測(cè)件變形及損壞

更新時(shí)間：2021-08-19

瀏覽次數(shù)：1187

　　激光粗糙度測(cè)量?jī)x采用DSP芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，速度快，功耗低，內(nèi)置大容量鋰離子電池及充電控制電路，無記憶效應(yīng)、具有過充過放保護(hù)，連續(xù)工作時(shí)間長(zhǎng)。光學(xué)測(cè)量法檢測(cè)粗糙度，單件產(chǎn)品測(cè)量時(shí)間僅零點(diǎn)幾秒，手持式小巧結(jié)構(gòu)，非接觸式測(cè)量，不會(huì)導(dǎo)致被測(cè)件變形及損壞。激光粗糙度測(cè)量?jī)x的評(píng)定軟件及設(shè)計(jì)特性使得該儀器可以安裝在生產(chǎn)過程中，進(jìn)行實(shí)時(shí)的，自動(dòng)的表面測(cè)量，利用這種及時(shí)的直接的質(zhì)量反饋，加工者可以及時(shí)的調(diào)整生產(chǎn)程序以提高成品率，減少次品率，節(jié)省生產(chǎn)成本。

　　隨著納米技術(shù)的發(fā)展、電子器件尺寸的縮小以及性能要求的不斷提高，工業(yè)產(chǎn)品和工件表面特征測(cè)量及數(shù)據(jù)質(zhì)量管理要求不斷提高。傳統(tǒng)觸針式粗糙度測(cè)量?jī)x以及其他通過接觸被測(cè)表面采集高度信息的儀器只能大致測(cè)量表面高度/特征以及表面淺層狀況。粗糙度測(cè)量?jī)x分為接觸式和非接觸式兩種。這兩種方式各有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，因此關(guān)鍵在于根據(jù)您的應(yīng)用需求選擇合適的儀器。由于激光能夠穿透透明涂層，顯微鏡能夠在不損傷上表層的情況下采集到光澤底漆層的特征數(shù)據(jù)。顯微鏡可利用多層掃描功能測(cè)量透明涂層的薄膜厚度及其表面粗糙度。

　　激光粗糙度測(cè)量?jī)x粗糙度的測(cè)量方法基本上可分為接觸式測(cè)量和非接觸式測(cè)量?jī)深?。在接觸式測(cè)量中主要有比較法、印模法、觸針法等；非接觸測(cè)量方式中常用的有光切法、實(shí)時(shí)全息法、散斑法、像散測(cè)定法、光外差法、AFM、光學(xué)傳感器法等。